Новости

28.02.2014STM32F401C-DISCO – новая отладочная плата от STMicroelectronics
На склад Компэл поступила отладочная плата STM32F401C-DISCO из серии отладочных плат «Discovery» от компании STMicroelectronics. Отладочная плата STM32F401C-DISCO предназначена для изучения новой линейки микроконтроллеров STM32F401. Новая отладочная плата сочетает в себе высокопроизводительный процессор ARM Cortex-M4F, богатый набор периферии и ультранизкое потребление в активных режимах работы. Основные параметры STM32F401C-DISCO: микроконтроллер STM32F401VCT6 (84 МГц, 256 Kб Flash, […]
27.02.2014Транзисторы StrongIRFET – эталонная проводимость для 48V применений
Вышедшее более года назад семейство 40-вольтовых транзисторов StrongIRFET™ надежно заняло место в 24 В и 36 В системах, а также в сердцах инженеров, благодаря своему эталонному сопротивлению открытого канала. Сегодня компания International Rectifier расширяет область применения данного семейства до 48-вольтового сегмента, выпустив новые транзисторы StrongIRFET™ с рабочим напряжением до 60 В. Основными областями применения семейства […]
26.02.2014Открылся первый сервисный центр TDK-Lambda в Москве
Основной и важной особенностью продукции компании TDK-Lambda является очень высокое качество изготовления и высокая надежность. Это подтверждается тем, что на некоторые серии источников питания предоставляется пожизненная гарантия (например, семейство HWS). Тем не менее, при эксплуатации любых изделий возможны ситуации изначально не оговоренные в техническом описании, могут возникать вопросы технического характера связанные с возможностью или невозможностью […]
25.02.2014Фотореле Toshiba TLP3403 и TLP3412
Самые компактные в отрасли, имеют размеры 1.5 мм × 2.5 мм.
Архив новостей

Партнеры

Журнал "Современная Электроника"

Контактная информация:

тел: (499) 503-37-58

E-mail1: zakaz@navicomp.ru

E-mail2: alexey@navicomp.ru

ICQ: 216-774-282

Наш интернет-магазин работает 24 часа в сутки.

 

Обработка заказов и заказ по телефону производятся с понедельника по пятницу,
с 10:00 до 18:00.

 

Лабораторный анализ

Тут представлены все возможные тесты, которые Вы можете заказать, чтобы удостовериться в качестве поставляемой продукции.

RoHS тестирование

RoHS анализТребования на соответствие RoHS наложили некоторый отпечаток на процесс поставки электронных компонентов. Некоторые производители не изменили название компонента (окончание наименования, указывающее PBFree технологию), не смотря на то, что начали применять бесвинцовые технологии в производстве.

Наш XRF-анализ (лабораторное RoHS тестирование) позволяет неразрушающим методом определить из чего состоит сплав. Практически все компоненты могут быть проверены с помощью этого метода, в том числе микросхемы в корпусах BGA, QFP, TSOP, разнообразные разъемы т.д.

Мы можем проверить все компоненты на соответствие RoHS.

Примерный отчет:

Отчет RoHS

 

Рентген-контроль (X-RAY)

Рентген-контроль

Рентген-контроль – это неразрушающий метод тестирования, позволяющий легко определить «мертвый» компонент, микротрещины на кристалле, нехарактерные пустоты, либо обрыв проводника в корпусе микросхемы.

Так пустоты могут привезти к разрушению, при автоматическом монтаже компонентов на печатную плату в термокамере. Оборванные проводники, трещины кристалла (поврежденный, либо контрафактный компонент) определяются сравнением с заведомо исправным оригинальным компонентом.

 

Электрический тест кристалла

Электрический тест

Данный тест очень эффективен для проверки микросхем в корпусе BGA. Проверяется каждый вывод компонента на соответствие электрических свойств, указанных в описании к кристаллу.

Данный инструмент позволяет определить такие часто встречающиеся дефекты, как:

  • нарушение ESD свойств;
  • перенапряжение компонента;
  • внутренние разрушения в результате перегрева.

Маломощное тестирование позволяет проверить основные параметры компонента, не запуская его. Тестирование запущенного компонента проводится, при подаче на его питающие входы напряжения и исследования режимов работы микросхемы в условиях, приближенным к реальным.

Основные электрические параметры

O/S

Тестирование целостности (запуск/отстановка)

IIH

Высокий уровень входного тока

IIL

Низкий уровень входного тока

RIN

Резистивные входы

VIO

Входное напряжение смещения

VOH

Высокий уровень выходного напряжения

VOL

Низкий уровень выходного напряжения

IOH

Высокий уровень выходного тока

IOL

Ток короткого замыкания

IOZL/IOZH

Высокоомный выход

ICC

Рабочий ток

ICCL

Низкий уровень потребления тока

ICCH

Высокий уровень потребления тока

BV

Напряжение пробоя

 

Пригодность к пайке

Наверное, Вам приходилось сталкиваться с компонентами, пайка которых затруднена в связи с окислением контактных выводов? Так вот, данный тест позволяет определить качество выводов компонентов на этапе закупки и принять меры – либо отказаться от партии, либо подготовиться к монтажу таких элементов.

Качество выводов

 

Визуальный контроль

Визуальный контроль, не смотря на свою простоту, является эффективным методом тестирования компонентов. Используя мощный микроскоп, можно определить действительно ли компонент является новым или его восстановили, изогнутость микросхемы, есть ли на корпусе трещины, перемаркирован ли компонент?

Визуальный контроль компонентов включает следующие операции:

  • сравнение материалов исполнения с оригинальными материалами производителя
  • осмотр этикетки и маркировки
  • проверка даты изготовления и номера партии
  • соблюдение правил ESD хранения (дополнительная плата)
  • контроль соблюдения температурных режимов и параметров влажности при хранении

Ниже представлены примеры того, что можно обнаружить при визуальном контроле:

Визуальный контроль

 

Тест ключевых функций

Тестирование ключевых функций компонента может включать подачу высокого напряжения, тока, помещение кристалла в специальные климатические условия. Все это делается для того, чтобы полностью удостоверится в качестве продукта.

Тестирование ключевых функций

Не так давно функциональное тестирование было возможно только на этапе финальной сборки печатной платы, либо вообще на завершенном изделии. Что согласитесь, накладывает определенные риски на процесс производства?

Теперь же появилась возможность проверить компонент на этапе закупки этого самого компонента. Инженеры нашей лаборатории постоянно внедряют все новые и новые методы тестирования, модернизируют оборудование и пополняют свои знания в области производства электронных компонентов.

 

Пишите нам на почту: zakaz@navicomp.ru